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Si loin, si proche : cartographie, technologie et politique

Si loin, si proche : cartographie, technologie et politique

Auteur(s) : Kurgan, Laura (Auteur)
Editeur(s) : Les presses du réel
Collection(s) :
Rayon(s) : Information


Public(s) : Public motivé
Ean : 9782840667735
Date de parution : 21/10/2021

Résumé : Etude critique des relevés GPS et des SIG, dont la fin du XXe siècle a vu la démocratisation et l'augmentation exponentielle de la précision. A partir d'objets particuliers (crimes de guerre, schémas d'incarcération, déforestation), l'auteure met en lumière la dimension politique, les situations conflictuelles majeures et les transformations survenues dans l'appréhension contemporaine de l'espace. ©Electre 2021
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