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Applications et métrologie à l'échelle nanométrique. Vol. 2. Système de mesure, ingénierie quantique et méthodes d'optimisation fiabiliste

Applications et métrologie à l'échelle nanométrique. Vol. 2. Système de mesure, ingénierie quantique et méthodes d'optimisation fiabiliste

Editeur(s) : Iste éditions
Rayon(s) : Techniques


Public(s) : Professionnels
Ean : 9781784057947
Date de parution : 01/12/2021

Résumé : Présentation des connaissances de base pour les applications industrielles dans le domaine de l'ingénierie quantique et des nanotechnologies. Les auteurs étudient les systèmes optiques pour la mesure à l'échelle nanométrique et les modèles quantiques décrivant l'interaction d'un système à deux niveaux dans son environnement.
Non paru, annoncé pour le 31/12/2099
60,13 €

Livraison à partir de 4 € en France métropolitaine