Applications et métrologie à l'échelle nanométrique. Vol. 2. Systèmes de mesure, ingénierie quantique et méthodes d'optimisation fiabiliste
Auteur(s) :
Dahoo, Pierre Richard (Auteur), Pougnet, Philippe (Auteur), El Hami, Abdelkhalak (Auteur)
Editeur(s) :
Iste éditions
Collection(s) :
Génie mécanique et mécanique des solides
Rayon(s) :
Techniques
Public(s) :
Professionnels
Ean :
9781784057947
Date de parution :
10/12/2021
Résumé :
Présentation des connaissances de base pour les applications industrielles dans le domaine de l'ingénierie quantique et des nanotechnologies. Les auteurs étudient les systèmes optiques pour la mesure à l'échelle nanométrique et les modèles quantiques décrivant l'interaction d'un système à deux niveaux dans son environnement. ©Electre 2024
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